Вернуться назад
НАБОР ДЛЯ ЦВЕТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ
р.
р.
Запросить цену
Предназначен для контроля поверхностных дефектов размером
от 1 мкм. Применяется для контроля любых непористых поверхностей при температуре от 0 °С до 65 °С.
Смотрите также
Left
Right
Ваше имя
Ваша почта
Ваш телефон
Название вашей организации / ИНН
Ваш комментарий к запросу
Я даю согласие на обработку персональных данных в соответствии с политикой конфиденциальности
Запросить цену