Вернуться назад

НАБОР ДЛЯ ЦВЕТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Предназначен для контроля поверхностных дефектов размером
от 1 мкм. Применяется для контроля любых непористых поверхностей при температуре от 0 °С до 65 °С.

Смотрите также